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09 जून, 2022 125 दृश्य लेखक: लिसुन

ESD सिमुलेटर अवलोकन (इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज टेस्ट)

ईएसडी सिम्युलेटर बंदूकें (इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज जेनरेटर/इलेक्ट्रोस्टैटिक गन/ईएसडी गन्स) आईईसी 61000-4-2, ईएन61000-4-2, आईएसओ10605, जीबी/टी17626.2, जीबी/टी17215.301 और जीबी/टी17215.322 के पूर्ण अनुपालन में है।

ESD61000-2_इलेक्ट्रॉस्टिक डिस्चार्ज सिम्युलेटर

शुष्क वातावरण में, मानव शरीर वस्तु या दो वस्तुओं के बीच घर्षण पर स्थैतिक बिजली उत्पन्न करता है, इसलिए आवेशित मानव शरीर आसानी से मुक्ति डिवाइस से संपर्क करने की प्रक्रिया के दौरान डिवाइस, संभावित सर्किट विफलताओं का कारण बनता है, और यहां तक ​​​​कि डिवाइस को नुकसान भी पहुंचाता है। वर्तमान में, नकली इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज टेस्ट दुनिया भर में व्यापक रूप से उपयोग किया जाता है, और इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज इम्युनिटी टेस्ट का उपयोग निम्नलिखित दो स्थितियों का अनुकरण करने के लिए किया जाता है:

1. उपकरण का निर्वहन जब उपकरण ऑपरेटर सीधे उपकरण से संपर्क करता है, और उपकरण के कार्य प्रदर्शन पर निर्वहन का प्रभाव। यह डिवाइस के प्रदर्शन पर ESD (डिवाइस से सीधे डिस्चार्ज) का प्रभाव है।
2. आसन्न उपकरण को छूते समय उपकरण पर उपकरण ऑपरेटर का प्रभाव। इस तथाकथित परोक्ष का प्रभाव मुक्ति (ऊर्ध्वाधर/क्षैतिज युग्मन प्लेट का निर्वहन करके) डिवाइस के प्रदर्शन पर।

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1. टेस्ट मानक:
GB/T17626.2, IEC/EN 61000-4-2, IEC/EN 61000-6-1/-2, IEC/EN 61326, IEC 61340, ANSI C63.16 और ITU-T K20GR1089-कोर ENV 50141।

2. परीक्षण आवश्यकताएँ:
2.1. संदर्भ ग्राउंड प्लेट एक तांबे की प्लेट या एल्यूमीनियम प्लेट होनी चाहिए जिसकी मोटाई 0.25 मिमी या उससे अधिक हो। यदि यह एक और धातु की प्लेट है, तो मोटाई कम से कम 0.65 मिमी या अधिक होनी चाहिए। संदर्भ ग्राउंड प्लेट का वास्तविक आकार सीमित नहीं है, और चार पक्षों को परीक्षण के तहत उपकरण (ग्राउंड उपकरण) या परीक्षण तालिका के क्षैतिज युग्मन प्लेट (टेबल उपकरण के लिए) से प्रत्येक तरफ 0.5 मिमी से अधिक की आवश्यकता होती है। . रेफरेंस ग्राउंड प्लेन को प्रयोगशाला के ग्राउंड वायर से जोड़ा जाना चाहिए।
2.2. क्षैतिज युग्मन प्लेट (केवल डेस्कटॉप उपकरण) और ऊर्ध्वाधर युग्मन प्लेट (इन्सुलेट समर्थन के साथ) की सामग्री संदर्भ ग्राउंड प्लेट के समान है। प्रयोग में इलेक्ट्रोस्टैटिक चार्ज को डिस्चार्ज करने के लिए दो कपलिंग बोर्ड में से प्रत्येक में 470kΩ रेसिस्टर वाला एक केबल होता है, जो रेफरेंस वायरिंग बोर्ड से जुड़ा होता है। उपयोग किए गए प्रतिरोध में निर्वहन का सामना करने की क्षमता होना आवश्यक है। ग्राउंडिंग प्लेट के साथ शॉर्ट-सर्किटिंग से बचने के लिए पूरी केबल को इंसुलेटेड किया जाना चाहिए।
2.3. डेस्कटॉप उपकरण के लिए, क्षैतिज युग्मन प्लेट पर 0.5 मिमी इन्सुलेट पतली प्लेट को कवर करें, और यह आवश्यक है कि प्लेट प्रयोग के दौरान स्पष्ट रूप से शुल्क जमा न करे। बेंचटॉप प्रयोग में, क्षैतिज युग्मन प्लेट परीक्षण की जाने वाली वस्तु के प्रत्येक पक्ष से कम से कम 0.1 मीटर बड़ी होती है। यदि परीक्षण की जाने वाली वस्तु बहुत बड़ी है, तो या तो एक बड़ी परीक्षण बेंच चुनें, या वस्तु को परीक्षण के तहत रखने के लिए दो समान परीक्षण बेंच चुनें। डेस्कटॉप पर क्षैतिज युग्मन प्लेटों को एक साथ वेल्ड करने की आवश्यकता नहीं है, और दो तालिकाओं के विलय पर कवर किया जा सकता है। प्रत्येक टेबलटॉप को 0.3m से अधिक दबाने के लिए एक ही सामग्री की एक धातु की प्लेट की आवश्यकता होती है, और दो तालिकाओं की क्षैतिज युग्मन प्लेट क्रमशः प्रतिरोध रेखाओं के साथ संदर्भ ग्राउंड प्लेन से जुड़ी होती हैं।
2.4. ग्राउंड इक्विपमेंट के लिए, रेफरेंस ग्राउंड प्लेट पर 0.1m ऊंचा इंसुलेटिंग सपोर्ट होना चाहिए, और DUT और DUT केबल को इंसुलेटिंग सपोर्ट पर रखा जाना चाहिए।
2.5. सभी कनेक्टिंग तारों को कम प्रतिबाधा कनेक्शन बनाए रखने की आवश्यकता होती है।

3. टेस्ट स्तर:
मानक परीक्षण स्तर को चार स्तरों में विभाजित करता है
सम्पर्क निर्वहन पर सेट हैं: 2KV, 4KV, 6KV और 8KV
हवा का अंतर मुक्ति पर सेट हैं: 2KV, 4KV, 8KV और 15KV

4. टेस्ट साइट आवश्यकताएँ:
4.1. परीक्षण से पहले, यह पुष्टि की जानी चाहिए कि ग्राउंडिंग स्क्रू ढीला नहीं है और 470kΩ का hcp/vcp ग्राउंडिंग प्रतिबाधा सही है।
4.2. परीक्षण स्थल को तापमान/आर्द्रता और वायुमंडलीय दबाव के लिए नियंत्रित किया जाना चाहिए। आवश्यकताएँ: परिवेश का तापमान: 15°C~35°C; सापेक्ष आर्द्रता: 30% ~ 60%; वायुमंडलीय दबाव: 86Kpa ~ 106Kpa।
4.3. परीक्षण के तहत वस्तु (ईयूटी) और परीक्षण स्थान की दीवारों और किसी भी धातु की वस्तुओं को 1 मीटर से अधिक रखा जाना चाहिए।
4.4. इलेक्ट्रोस्टैटिक गन की ग्राउंडिंग मेटल स्ट्रैप को ग्राउंड किया जाना चाहिए।

5. परीक्षण प्रक्रिया:
5.1. परीक्षण की गई वस्तु पर सीधे निर्वहन लागू करें:
इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्जई केवल उन बिंदुओं और सतहों पर लागू होता है जिन्हें ऑपरेटर परीक्षण के तहत वस्तु के सामान्य उपयोग के दौरान छू सकता है। संभावित विफलता के महत्वपूर्ण मूल्य को निर्धारित करने के लिए, परीक्षण वोल्टेज को धीरे-धीरे न्यूनतम मान से चयनित परीक्षण वोल्टेज मान तक बढ़ाया जाना चाहिए, और अंतिम परीक्षण वोल्टेज मान परीक्षण किए गए ऑब्जेक्ट के विनिर्देश मान से अधिक नहीं होना चाहिए ताकि नुकसान से बचा जा सके। उपकरण। परीक्षण एकल निर्वहन के रूप में किया जाना चाहिए, कम से कम 10 एकल निर्वहन पूर्व-चयन बिंदुओं पर लागू होते हैं; लगातार एकल निर्वहन के बीच का समय अंतराल कम से कम 1 सेकंड होना चाहिए, यह निर्धारित करने के लिए कि परीक्षण वस्तु विफल हो जाएगी, इसे अधिक समय अंतराल रखने की अनुशंसा की जाती है।
5.2. अप्रत्यक्ष रूप से आवेदन करना मुक्ति परीक्षण वस्तु के लिए:
ए) परीक्षण की गई वस्तु के नीचे क्षैतिज युग्मन प्लेट पर, परीक्षण की गई वस्तु के कुछ बिंदुओं पर क्षैतिज युग्मन बोर्ड पर कम से कम 10 एकल निर्वहन लागू होते हैं; जब मुक्ति इलेक्ट्रोड युग्मन बोर्ड को छूता है, इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज होना चाहिए जनरेटर को मापा वस्तु से 0.1 मीटर की दूरी पर लंबवत रखा जाता है।
बी)। लंबवत युग्मन प्लेट: कम से कम 10 सिंगल लागू करें निर्वहन युग्मन प्लेट के एक ऊर्ध्वाधर पक्ष के केंद्र में, और युग्मन प्लेट को मापी गई वस्तु के समानांतर 0.5*0.5m के आकार के साथ रखें और 0.1m की दूरी रखें। डिस्चार्ज को कपलिंग प्लेट पर लागू किया जाना चाहिए, और कपलिंग प्लेट की स्थिति को समायोजित करके, परीक्षण की जाने वाली वस्तु के चार किनारों पर विभिन्न पदों के संपर्क में हैं निर्वहन परीक्षण.

6. परीक्षा परिणाम:
परीक्षण के परिणामों को प्रदर्शन की हानि या परीक्षण की गई वस्तु के प्रदर्शन में गिरावट के अनुसार वर्गीकृत किया जाएगा। प्रासंगिक प्रदर्शन स्तर निर्माता या परीक्षण के मांगकर्ता द्वारा निर्धारित किया जाता है, या निर्माता और क्रेता के बीच समन्वयित होता है। निम्नलिखित आवश्यकताओं के अनुसार वर्गीकृत करने की अनुशंसा की जाती है:
एक)। निर्माता, सौंपने वाले पक्ष या खरीदार द्वारा निर्दिष्ट सीमाओं के भीतर सामान्य रूप से प्रदर्शन करता है
बी)। फ़ंक्शन या प्रदर्शन अस्थायी रूप से खो गया है या कम हो गया है, लेकिन यह ऑपरेटर के हस्तक्षेप के बिना परीक्षण के अंत के बाद अपने आप ठीक हो सकता है;
सी)। अस्थायी हानि या कार्य या प्रदर्शन में गिरावट, लेकिन पुनर्प्राप्ति के लिए ऑपरेटर के हस्तक्षेप की आवश्यकता होती है;
डी)। हार्डवेयर या सॉफ़्टवेयर क्षति या परीक्षण किए गए ऑब्जेक्ट के डेटा हानि के कारण अप्राप्य फ़ंक्शन हानि या प्रदर्शन गिरावट;

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