लोगों और इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों पर विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप का प्रभाव

हाल ही में चाइना कंज्यूमर्स एसोसिएशन द्वारा विकिरण वाले कंप्यूटरों के बिजली आपूर्ति प्लग के संबंध में एक नोटिस जारी किया गयाहस्तक्षेप राष्ट्रीय मानक से अधिक जारी किया गया, जिससे पावर ग्रिड में अन्य इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों पर असर पड़ने की संभावना है, और अंततः कंप्यूटर क्रैश हो जाएगा। इस हस्तक्षेप का मुख्य कारण यह है कि कंप्यूटर के बिजली आपूर्ति टर्मिनल से विकिरण हस्तक्षेप राष्ट्रीय मानकों द्वारा निर्धारित सीमा से अधिक है, और यह हस्तक्षेप अन्य इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों, विशेष रूप से उच्च-संवेदनशीलता वाले इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के सामान्य संचालन में हस्तक्षेप कर सकता है।

विज्ञान और प्रौद्योगिकी के विकास और समाज के सभी क्षेत्रों में तेजी से डिजिटलीकृत और उच्च गति वाले विद्युत और इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के उपयोग के साथ, विद्युतचुंबकीय व्यवधान विद्युत और इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों के अनुप्रयोग ने समाज में विद्युत चुम्बकीय प्रदूषण की समस्या भी ला दी है। और विद्युत चुम्बकीय प्रदूषण और जल प्रदूषण, वायु प्रदूषण आज के समाज में प्रदूषण के तीन प्रमुख स्रोतों के रूप में जाने जाते हैं। तेजी से बढ़ती विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप समस्या के साथ, रेडियो पर अंतर्राष्ट्रीय विशेष समिति हस्तक्षेप (CISPR) ने CISPR-16, CISPR-15 जारी किया है, यूरोपीय मानक समिति ने EN55015 और EN55022 मानक आदि जारी किए हैं। इन उपायों और मानकों को बिंदु इलेक्ट्रॉनिक उत्पादों और अन्य विशिष्टताओं के विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप सीमा को विनियमित करने के लिए डिज़ाइन किया गया है, ताकि कम किया जा सके विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप के कारण होने वाली सामाजिक समस्याएँ।

विद्युतचुंबकीय व्यवधान(ईएमआई) को दो प्रकारों में विभाजित किया गया है: प्रवाहकीय हस्तक्षेप और विकिरण हस्तक्षेप। प्रवाहकीय हस्तक्षेप एक प्रवाहकीय माध्यम के माध्यम से एक विद्युत नेटवर्क पर दूसरे से सिग्नल के युग्मन (हस्तक्षेप) को संदर्भित करता है। विकिरण हस्तक्षेप से तात्पर्य हस्तक्षेप स्रोत युग्मन (हस्तक्षेप) से है जो अंतरिक्ष के माध्यम से किसी अन्य विद्युत नेटवर्क को संकेत देता है। हाई-स्पीड पीसीबी और सिस्टम डिज़ाइन में, हाई-फ़्रीक्वेंसी सिग्नल लाइनें, एकीकृत सर्किट के पिन, विभिन्न कनेक्टर आदि सभी एंटीना विशेषताओं के साथ विकिरण हस्तक्षेप स्रोत बन सकते हैं, जो विद्युत चुम्बकीय तरंगों का उत्सर्जन कर सकते हैं और अन्य प्रणालियों या अन्य के सामान्य संचालन को प्रभावित कर सकते हैं। एक ही सिस्टम में सबसिस्टम। जैसा कि सभी जानते हैं, ईएमसी का परीक्षण लक्ष्य इलेक्ट्रॉनिक और विद्युत उपकरण हैं, और एक महत्वपूर्ण भाग के रूप में प्रकाश उपकरण, स्वाभाविक रूप से इसी तरह की बाधाएं भी हैं। जैसे कि संयुक्त राज्य अमेरिका में एफसीसी प्रमाणीकरण, यूरोपीय संघ में सीई प्रमाणीकरण और इसी तरह एलईडी प्रकाश उपकरण पर प्रासंगिक परीक्षण आइटम सामने रखे गए हैं। जब विद्युत चुम्बकीय हस्तक्षेप की बात आती है, तो आम तौर पर इसके दो स्रोत होते हैं हस्तक्षेप; एक प्रवाहकीय हस्तक्षेप है, मुख्य रूप से प्रवाहकीय माध्यम या आम बिजली लाइन के माध्यम से इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों द्वारा उत्पन्न हस्तक्षेप संकेत परस्पर एक दूसरे में हस्तक्षेप करते हैं, 0.15 मेगाहर्ट्ज से प्रवाहकीय हस्तक्षेप स्कैन परीक्षण आवृत्ति के एलईडी लैंप एफसीसी प्रमाणीकरण 30 मेगाहर्ट्ज अंत तक शुरू हुआ, सीई प्रमाणीकरण प्रवाहकीय हस्तक्षेप स्कैन परीक्षण आवृत्ति 9KHz से शुरू होकर 30MHz तक समाप्त हुई।

दूसरा विकिरण हस्तक्षेप है, जो मुख्य रूप से इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों द्वारा उत्पन्न हस्तक्षेप संकेतों को संदर्भित करता है और अंतरिक्ष के माध्यम से किसी अन्य विद्युत नेटवर्क से जुड़ा होता है। एफसीसी प्रमाणन अंतरिक्ष विकिरण हस्तक्षेप एलईडी लैंप की स्कैन परीक्षण आवृत्ति 30 मेगाहर्ट्ज से 1 गीगाहर्ट्ज तक है, और सीई प्रमाणीकरण की अंतरिक्ष विकिरण हस्तक्षेप स्कैन परीक्षण आवृत्ति 30 किलोहर्ट्ज से 300 मेगाहर्ट्ज तक है। प्रकाश उद्योग में, ईएमआई के दो तरीके हैं, आवृत्ति 9KHz-30MHz परीक्षण, एक एंटीना (एंटीना) का उपयोग करना और ईएमआई रिसीवर, इसका आधार मानक CISPR15, EN55015, GB17743 है। प्रकाश उपकरणों के लिए कम आवृत्ति वाले चुंबकीय क्षेत्र उपकरण का उत्पादन किया जा सकता है, कम आवृत्ति वाले चुंबकीय क्षेत्र विकिरण हस्तक्षेप को मापने के लिए CISPR16-1-4 तीन-रिंग एंटीना को अपनाने की आवश्यकता है। इसका परीक्षण मुख्य रूप से तीन-रिंग एंटीना और ईएमआई रिसीवर द्वारा किया जाता है, और परीक्षण परिरक्षित कमरे में किया जाना चाहिए। नोट: तीन-रिंग एंटीना एक्स, वाई और जेड दिशाओं के कम-आवृत्ति चुंबकीय क्षेत्र घटकों को आरएफ सिग्नल में परिवर्तित करता है, और माप के लिए उन्हें समाक्षीय स्विच के माध्यम से तीन चैनलों तक ईएमआई रिसीवर तक पहुंचाता है; दूसरा एलआईएसएन परीक्षण विधि का उपयोग है, ईएमआई रिसीवर + कृत्रिम बिजली नेटवर्क + एलआईएसएन और परीक्षण सॉफ्टवेयर द्वारा परीक्षण की आवश्यकता है। ईएमआई परीक्षण प्रणाली का उपयोग लैंप के पावर पोर्ट और सामान्य कामकाजी स्थिति में प्रकाश उपकरण द्वारा उत्पन्न हस्तक्षेप को मापने के लिए किया जाता है, एलआईएसएन आरएफ सिग्नल के अलगाव, नमूनाकरण, प्रतिबाधा मिलान का एहसास करता है, और ईयूटी के लिए विद्युत चैनल प्रदान करता है , ईएमआई रिसीवर आरएफ सिग्नल को मापता है, और अंत में ईएमआई परीक्षण सॉफ्टवेयर विश्लेषण, प्रक्रियाएं और निर्णय करता है। परीक्षण संरक्षित कमरे में किया जाना चाहिए।

वहीं, 9KHz-300MHz वेव बैंड EMI परीक्षण के लिए CDN विधि का उपयोग किया जाता है। CISPR15, EN55015 और GB17743 मानक एक अन्य प्रकार के प्रकाश उपकरण भी प्रदान करते हैं विद्युत चुम्बकीय क्षेत्र हस्तक्षेप परीक्षण विधि, यानी सीडीएन सामान्य मोड टर्मिनल वोल्टेज विधि। सीडीएन विधि का उपयोग करते हुए, मुख्य रूप से ईएमआई रिसीवर, सीडीएन और एटेन्यूएटर शामिल हैं। परीक्षण परिरक्षित कमरे में किया जा सकता है। ईएमआई परीक्षण के लिए, रेडियो हस्तक्षेप पर अंतर्राष्ट्रीय विशेष समिति (सीआईएसपीआर) ने सीआईएसपीआर-16 वायरलेस हस्तक्षेप और हस्तक्षेप-विरोधी माप उपकरणों और विशिष्टताओं को प्रख्यापित किया, और प्रकाश उद्योग के लिए, रेडियो हस्तक्षेप पर अंतर्राष्ट्रीय विशेष समिति ने भी सीआईएसपीआर-15 का प्रस्ताव रखा। इलेक्ट्रॉनिक प्रकाश और संबंधित उपकरण वायरलेस हस्तक्षेप विशेषताओं की सीमा और माप के तरीके, और विभिन्न देशों ने राष्ट्रीय स्थिति के अनुसार विभिन्न प्रकार के ईएमआई प्रकाश परीक्षण विनिर्देशों को भी आगे बढ़ाया है, जैसे कि यूरोपीय संघ में EN55015-2007, चीन में GB17743-1999। यूरोपीय संघ के देशों के लिए, EN55015 मानक (संदर्भ CISPR-15) 100 हर्ट्ज से अधिक आवृत्ति वाले पारंपरिक प्रकाश उपकरणों, जैसे गरमागरम लैंप, फ्लोरोसेंट लैंप, स्व-रेक्टिफायर और ऊर्जा-बचत लैंप के लिए लागू है। ये उपकरण आमतौर पर संबंधित विकिरण हस्तक्षेप सीमा के साथ 30 मेगाहर्ट्ज से अधिक नहीं होते हैं। लेकिन नए एलईडी प्रकाश उद्योग के लिए, आमतौर पर आवृत्ति 30 मेगाहर्ट्ज से अधिक होती है, और 30 मेगाहर्ट्ज से 300 मेगाहर्ट्ज तक स्कैन आवृत्ति को सीई प्रमाणीकरण में स्पष्ट रूप से आगे रखा जाता है।

दो ईएमआई परीक्षण प्रणालियाँ विकसित और निर्मित की गईं LISUN CISPR16 जैसे प्रासंगिक बुनियादी मानकों के अनुसार। पारंपरिक और नए प्रकाश उद्योग मानकों के लिए, दोनों उपकरणों की स्कैनिंग आवृत्ति अलग-अलग है। KH3962 ईएमआई स्कैनिंग आवृत्ति 9KHz-300MHz है, जो एलईडी और पारंपरिक प्रकाश उपकरण परीक्षण के लिए उपयुक्त है; KH3961 EMI स्कैनिंग आवृत्ति 9KHz-30MHz है, जो मुख्य रूप से पारंपरिक प्रकाश उपकरण परीक्षण के लिए उपयुक्त है। यह निर्धारित करने के लिए कि परीक्षण की गई वस्तु मानक को पूरा करती है या नहीं, हम निर्णय लेने के लिए शिखर, अर्ध-शिखर और औसत के तीन मूल्यों का उल्लेख करते हैं। विभिन्न मानकों के अंतर को ध्यान में रखते हुए, सॉफ्टवेयर सीधे GB17743, FCC, EN55015, GB4343, आदि जैसे निर्णय मानकों को कॉल कर सकता है।

Lisun इंस्ट्रूमेंट्स लिमिटेड द्वारा पाया गया था LISUN GROUP 2003 में। LISUN गुणवत्ता प्रणाली को ISO9001: 2015 द्वारा कड़ाई से प्रमाणित किया गया है। CIE सदस्यता के रूप में, LISUN उत्पादों को सीआईई, आईईसी और अन्य अंतरराष्ट्रीय या राष्ट्रीय मानकों के आधार पर डिजाइन किया गया है। सभी उत्पादों ने CE प्रमाण पत्र पारित किया और तीसरे पक्ष की प्रयोगशाला द्वारा प्रमाणित किया गया।

हमारे मुख्य उत्पाद हैं गोनियोफोटोमीटर, क्षेत्र का एकीकरण, स्पेक्ट्रोमाडोमीटर, जनरेटर बढ़ाना, ईएसडी सिम्युलेटर बंदूकें, ईएमआई प्राप्तकर्ता, ईएमसी परीक्षण उपकरण, विद्युत सुरक्षा परीक्षक, पर्यावरण कक्ष, तापमान कक्ष, जलवायु चैंबर, थर्मल चैंबर, नमक स्प्रे परीक्षण, धूल परीक्षण कक्ष, निविड़ अंधकार परीक्षण, RoHS टेस्ट (EDXRF), ग्लो वायर टेस्ट और सुई लौ परीक्षण.

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