कई ग्राहकों की प्रतिक्रिया है कि उनके एलईडी ल्यूमिनेयर 30 वर्ष में सीई सर्टिफिकेट ईएमआई रेडिएशन टेस्ट (300-2019 मेगाहर्ट्ज) पास नहीं कर सकते हैं, लेकिन यह वही है जो पिछले साल पास किया जा सकता है। ऐसा क्यों होता है? इसका मुख्य कारण नए ईएमआई परीक्षण मानक को अद्यतन किया जाना है CISPR15:2018। ईएमआई टेस्ट एलईडी ल्यूमिनेयरों के लिए परीक्षण करना सबसे महत्वपूर्ण और कठिन है। यह लेख LISUN इंजीनियर हमें नए मानक का अध्ययन करने के लिए ले जाएगा CISPR15:2018 की तुलना में CISPR15: 2013.
प्रकाश उपकरण CISPR 15: 2018 के लिए अंतर्राष्ट्रीय मानक का नवीनतम संस्करण 16 फरवरी, 2018 को जारी किया गया है। नया मानक डाउनलोड करने के लिए कृपया नीचे क्लिक करें:
पुराने संस्करण CISPR 15: 2013 + A1: 2015 की तुलना में, प्रमुख परिवर्तन इस प्रकार हैं:
1. सम्मिलन हानि परीक्षण आवश्यकताओं और मूल संबंधित परिशिष्ट A को हटा दिया गया;
2. टेबल 4, टेबल 5, टेबल 6 पावर पोर्ट के अलावा ईएलवी लैंप और केबलों के लिए पावर पोर्ट के लिए कंडक्शन इंटरफेरेंस लिमिट टेबल की आवश्यकताएं जोड़ते हैं;
3. वायर्ड नेटवर्क इंटरफेस के कंडक्शन हस्तक्षेप मूल्य के लिए निम्नलिखित बदलाव किए (मानक तालिका 2 और तालिका 3 से विवरण देखें):
एक: वायर्ड नेटवर्क इंटरफेस के लिए नियंत्रण टर्मिनल द्वारा नाम अद्यतन किया गया है;
बी: वर्तमान जांच का उपयोग करते हुए परीक्षण के लिए सीमा में वृद्धि हुई है, और यह स्पष्ट रूप से कहा गया है कि जब तक गड़बड़ी वर्तमान या गड़बड़ी वोल्टेज संतुष्ट है, तब तक प्रभावी नेटवर्क इंटरफेस के प्रवाहकत्त्व हस्तक्षेप को मानक आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए माना जा सकता है;
4. स्थानीय वायर्ड इंटरफेस की चालन हस्तक्षेप सीमाओं के लिए निम्नलिखित परिवर्तन किए गए थे (मानक तालिका 5 और तालिका 6 से विवरण देखें)।
एक: नाम स्थानीय वायर्ड बंदरगाहों के लिए लोड टर्मिनल द्वारा अद्यतन किया जाता है;
बी: वर्तमान जांच का उपयोग करके परीक्षण के लिए सीमा में वृद्धि हुई है, और यह स्पष्ट रूप से कहा गया है कि जब तक गड़बड़ी वर्तमान या गड़बड़ी वोल्टेज से संतुष्ट है, स्थानीय वायर्ड पोर्ट्सकैन के चालन हस्तक्षेप को मानक आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए माना जाता है;
5. रेडिएट-फील्ड गड़बड़ी के लिए एक नई परीक्षा विधि का उद्धरण दें: सीडीएनई विधि, जो मूल CDN विधि की जगह लेती है;
6. निर्दिष्ट करता है कि अगर रेडिएंट-फील्ड डिस्टर्बेंस माप का मूल्यांकन करने के लिए सीडीएन विधि का उपयोग करें, तो उत्पाद की आंतरिक कार्य आवृत्ति be 30MHz होनी चाहिए, और उत्पाद का आकार 3 m * 1m * 1m (लंबाई * चौड़ाई * ऊँचाई) के भीतर नियंत्रित होना चाहिए।
7. CDNE विधि की सीमा (QP / Quasi-चोटी) अधिक सख्त है;
8. CDNE विधि का परीक्षण लेआउट:
9. CDNE विधि के अलावा, रेडिएट-फील्ड डिस्टर्बेंस माप 300MHz ~ 1GHz की सीमा आवश्यकताओं को भी बढ़ाता है जो निम्नानुसार है (QP / quasi-चोटी, 3 m आधा-लहर अंधेरे)
परीक्षण आवृत्ति frequency मेगाहर्ट्ज Hz |
सीमा dB (uV / m) |
30 से 230 तक |
40 |
230 से 1000 तक |
47 |
10. अंतरिक्ष विकिरणित क्षेत्र में गड़बड़ी का लेआउट, परीक्षण करने के लिए EUT को शक्ति देने के लिए एक CDNE जोड़कर:
11. लूप एंटीना के लिए रेडिएटेड-फील्ड डिस्टर्बेंस माप, ने कहा कि> 1.6 मीटर के आकार वाले नए उत्पाद को विधि के अनुसार जांचा जा सकता है। CISPR16-1-4: एक खुले मैदान या एक आधे-लहर अंधेरे कमरे में 3 सेमी लूप एंटीना का उपयोग करके 60 मी पर्यावरण में टेस्ट। यह परीक्षण विधि 3m और 4m आकार के लूप एंटीना परीक्षण की जगह ले सकती है;
इस परीक्षण विधि की सीमाएँ इस प्रकार हैं (QP / अर्ध-शिखर):
परीक्षण आवृत्ति frequency मेगाहर्ट्ज Hz |
सीमा dB V uV / m ( |
0.009 से 0.070 तक |
69 |
0.070 से 0.150 तक |
69 से 39 तक |
0.150 से 4.0 तक |
39 से 3 तक |
4.0 से 30.0 तक |
3 |
12. शंक्वाकार आवास पैनल के एपर्चर को निम्नानुसार बदला गया है:
13. GU10 संगीन टोपी, शंक्वाकार आवास या संगीन टोपी का उपयोग कर स्व-रोशनित दीपक के लिए, आयोजित गड़बड़ी माप के दौरान स्वयं AMN के PE से जुड़ा होना चाहिए, जैसा कि निम्नलिखित तरीके से दिखाया गया है:
14. कुछ luminaires के परीक्षण के लिए आवश्यक उम्र बढ़ने के समय को ठीक किया, और स्पष्ट रूप से निर्दिष्ट किया कि LED / OLED तकनीक का उपयोग करने वाले luminaires, परीक्षण से पहले कोई उम्र बढ़ने की आवश्यकता नहीं है।
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