ESD सिमुलेटर अवलोकन (इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज टेस्ट)

ईएसडी सिम्युलेटर बंदूकें (इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज जेनरेटर / इलेक्ट्रोस्टैटिक गन / ईएसडी गन्स) पूर्ण अनुपालन में है IEC 61000-4-2, EN61000-4-2, ISO10605, GB/T17626.2, GB/T17215.301 और GB/T17215.322.

ESD61000-2_इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज सिम्युलेटर

शुष्क वातावरण में, मानव शरीर किसी वस्तु पर स्थैतिक बिजली या दो वस्तुओं के बीच घर्षण उत्पन्न करता है, इसलिए आवेशित मानव शरीर आसानी से मुक्ति डिवाइस से संपर्क करने की प्रक्रिया के दौरान, संभावित सर्किट विफलताएं होती हैं, और यहां तक ​​कि डिवाइस को नुकसान भी होता है। वर्तमान में, सिम्युलेटेड इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज परीक्षण दुनिया भर में व्यापक रूप से उपयोग किया जाता है, और इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज इम्युनिटी परीक्षण का उपयोग निम्नलिखित दो स्थितियों का अनुकरण करने के लिए किया जाता है:

1. जब उपकरण ऑपरेटर सीधे उपकरण से संपर्क करता है तो उपकरण का डिस्चार्ज होना और उपकरण के कामकाजी प्रदर्शन पर डिस्चार्ज का प्रभाव पड़ता है। यह डिवाइस के प्रदर्शन पर ईएसडी (डिवाइस पर सीधा डिस्चार्ज) का प्रभाव है।
2. निकटवर्ती उपकरण को छूने पर उपकरण संचालक का उपकरण पर प्रभाव। इसका प्रभाव तथाकथित अप्रत्यक्ष है मुक्ति (ऊर्ध्वाधर/क्षैतिज युग्मन प्लेट को डिस्चार्ज करके) डिवाइस के प्रदर्शन पर।

1. परीक्षण मानक:
GB/T17626.2, IEC/EN 61000-4-2, IEC/EN 61000-6-1/-2, IEC/EN 61326, IEC 61340, ANSI C63.16 और ITU-T K20GR1089-CORE ENV 50141।

2. परीक्षण आवश्यकताएँ:
2.1. संदर्भ ग्राउंड प्लेट 0.25 मिमी या अधिक की मोटाई वाली तांबे की प्लेट या एल्यूमीनियम प्लेट होनी चाहिए। यदि यह अन्य धातु की प्लेट है, तो मोटाई कम से कम 0.65 मिमी या अधिक होनी चाहिए। संदर्भ ग्राउंड प्लेट का वास्तविक आकार सीमित नहीं है, और चारों पक्षों को परीक्षण के तहत उपकरण (ग्राउंड उपकरण) या परीक्षण तालिका की क्षैतिज युग्मन प्लेट (टेबल उपकरण के लिए) से प्रत्येक तरफ 0.5 मिमी से अधिक होना आवश्यक है। . रेफरेंस ग्राउंड प्लेन को प्रयोगशाला के ग्राउंड वायर से जोड़ा जाना चाहिए।
2.2. क्षैतिज युग्मन प्लेट (केवल डेस्कटॉप उपकरण) और ऊर्ध्वाधर युग्मन प्लेट (इन्सुलेट समर्थन के साथ) की सामग्री संदर्भ ग्राउंड प्लेट के समान है। प्रयोग में इलेक्ट्रोस्टैटिक चार्ज को डिस्चार्ज करने के लिए दो कपलिंग बोर्डों में से प्रत्येक में संदर्भ वायरिंग बोर्ड से जुड़े 470kΩ अवरोधक के साथ एक केबल है। उपयोग किए गए प्रतिरोध में डिस्चार्ज को झेलने की क्षमता होना आवश्यक है। ग्राउंडिंग प्लेट के साथ शॉर्ट-सर्किट से बचने के लिए पूरी केबल को इंसुलेट किया जाना चाहिए।
2.3. डेस्कटॉप उपकरण के लिए, क्षैतिज युग्मन प्लेट पर 0.5 मिमी इंसुलेटिंग पतली प्लेट को कवर करें, और यह आवश्यक है कि प्रयोग के दौरान प्लेट स्पष्ट रूप से चार्ज जमा न करे। बेंचटॉप प्रयोग में, क्षैतिज युग्मन प्लेट परीक्षण की जाने वाली वस्तु के प्रत्येक पक्ष से कम से कम 0.1 मीटर बड़ी होती है। यदि परीक्षण की जाने वाली वस्तु बहुत बड़ी है, तो या तो एक बड़ी परीक्षण बेंच चुनें, या परीक्षण के तहत वस्तु को रखने के लिए दो समान परीक्षण बेंच चुनें। डेस्कटॉप पर क्षैतिज युग्मन प्लेटों को एक साथ वेल्ड करने की आवश्यकता नहीं है, और दो तालिकाओं के विलय पर इसे कवर किया जा सकता है। प्रत्येक टेबलटॉप को 0.3 मीटर से अधिक तक दबाने के लिए समान सामग्री की एक धातु प्लेट की आवश्यकता होती है, और दो टेबलों की क्षैतिज युग्मन प्लेटें क्रमशः प्रतिरोध लाइनों के साथ संदर्भ ग्राउंड प्लेन से जुड़ी होती हैं।
2.4. ग्राउंड उपकरण के लिए, रेफरेंस ग्राउंड प्लेट पर 0.1 मीटर ऊंचा इंसुलेटिंग सपोर्ट होना चाहिए और DUT और DUT केबल को इंसुलेटिंग सपोर्ट पर रखा जाना चाहिए।
2.5. सभी कनेक्टिंग तारों को कम प्रतिबाधा कनेक्शन बनाए रखने की आवश्यकता है।

3. परीक्षण स्तर:
मानक परीक्षण स्तर को चार स्तरों में विभाजित करता है
सम्पर्क निर्वहन पर सेट हैं: 2KV, 4KV, 6KV और 8KV
हवा का अंतर मुक्ति पर सेट हैं: 2KV, 4KV, 8KV और 15KV

4. परीक्षण स्थल आवश्यकताएँ:
4.1. परीक्षण से पहले, यह पुष्टि की जानी चाहिए कि ग्राउंडिंग स्क्रू ढीला नहीं है और 470kΩ की hcp/vcp ग्राउंडिंग प्रतिबाधा सही है।
4.2. परीक्षण स्थल को तापमान/आर्द्रता और वायुमंडलीय दबाव के लिए नियंत्रित किया जाना चाहिए। आवश्यकताएँ: परिवेश का तापमान: 15°C~35°C; सापेक्ष आर्द्रता: 30%~60%; वायुमंडलीय दबाव: 86Kpa~106Kpa.
4.3. परीक्षण के तहत वस्तु (ईयूटी) और परीक्षण स्थान की दीवारें और किसी भी धातु की वस्तु को 1 मीटर से अधिक दूरी पर रखा जाना चाहिए।
4.4. इलेक्ट्रोस्टैटिक गन की ग्राउंडिंग मेटल स्ट्रैप को ग्राउंड किया जाना चाहिए।

5. परीक्षण प्रक्रिया:
5.1. परीक्षण की गई वस्तु पर सीधे डिस्चार्ज लागू करें:
इलेक्ट्रोस्टैटिक मुक्तिई केवल उन बिंदुओं और सतहों पर लागू होता है जिन्हें ऑपरेटर परीक्षण के तहत वस्तु के सामान्य उपयोग के दौरान छू सकता है। संभावित विफलता के महत्वपूर्ण मूल्य को निर्धारित करने के लिए, परीक्षण वोल्टेज को धीरे-धीरे न्यूनतम मूल्य से चयनित परीक्षण वोल्टेज मूल्य तक बढ़ाया जाना चाहिए, और अंतिम परीक्षण वोल्टेज मान क्षति से बचने के लिए परीक्षण की गई वस्तु के विनिर्देश मूल्य से अधिक नहीं होना चाहिए। उपकरण। परीक्षण एकल डिस्चार्ज के रूप में किया जाना चाहिए, पूर्व-चयन बिंदुओं पर कम से कम 10 एकल डिस्चार्ज लगाए जाते हैं; लगातार एकल डिस्चार्ज के बीच का समय अंतराल कम से कम 1 सेकंड होना चाहिए, यह निर्धारित करने के लिए कि परीक्षण वस्तु विफल हो जाएगी या नहीं, इसे अधिक समय अंतराल रखने की अनुशंसा की जाती है।
5.2. परोक्ष रूप से लागू करना मुक्ति परीक्षण की गई वस्तु के लिए:
ए) परीक्षण की गई वस्तु के नीचे क्षैतिज युग्मन प्लेट पर, परीक्षण की गई वस्तु के कुछ बिंदुओं पर क्षैतिज युग्मन बोर्ड पर कम से कम 10 एकल डिस्चार्ज लागू होते हैं; जब मुक्ति इलेक्ट्रोड कपलिंग बोर्ड को छूता है, इलेक्ट्रोस्टैटिक डिस्चार्ज होना चाहिए जनरेटर को मापी गई वस्तु से 0.1 मीटर की दूरी पर लंबवत रखा गया है।
बी)। वर्टिकल कपलिंग प्लेट: कम से कम 10 सिंगल लगाएं निर्वहन कपलिंग प्लेट के एक ऊर्ध्वाधर पक्ष के केंद्र में, और 0.5 * 0.5 मीटर आकार की कपलिंग प्लेट को मापी गई वस्तु के समानांतर रखें और 0.1 मीटर की दूरी रखें। डिस्चार्ज को कपलिंग प्लेट पर लागू किया जाना चाहिए, और कपलिंग प्लेट की स्थिति को समायोजित करके, परीक्षण की जाने वाली वस्तु के चारों तरफ अलग-अलग स्थिति के संपर्क में हैं निर्वहन परीक्षण.

6. परीक्षण के परिणाम:
परीक्षण के परिणामों को परीक्षण की गई वस्तु के प्रदर्शन में कमी या प्रदर्शन में गिरावट के अनुसार वर्गीकृत किया जाएगा। प्रासंगिक प्रदर्शन स्तर निर्माता या परीक्षण के मांगकर्ता द्वारा निर्धारित किया जाता है, या निर्माता और खरीदार के बीच समन्वयित किया जाता है। इसे निम्नलिखित आवश्यकताओं के अनुसार वर्गीकृत करने की अनुशंसा की जाती है:
ए)। निर्माता, सौंपने वाली पार्टी या क्रेता द्वारा निर्दिष्ट सीमाओं के भीतर सामान्य रूप से कार्य करता है
बी)। फ़ंक्शन या प्रदर्शन अस्थायी रूप से खो जाता है या कम हो जाता है, लेकिन ऑपरेटर के हस्तक्षेप के बिना परीक्षण के अंत के बाद यह अपने आप ठीक हो सकता है;
सी)। कार्य या प्रदर्शन में अस्थायी हानि या गिरावट, लेकिन पुनर्प्राप्ति के लिए ऑपरेटर के हस्तक्षेप की आवश्यकता होती है;
डी)। हार्डवेयर या सॉफ़्टवेयर क्षति या परीक्षण किए गए ऑब्जेक्ट के डेटा हानि के कारण अप्राप्य फ़ंक्शन हानि या प्रदर्शन में गिरावट;

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